IC磁卡检测仪器源于HSCreate恒胜创新高清IC磁卡检测仪器

北京昌平区IC磁卡检测仪器源于HSCreate恒胜创新高清IC磁卡检测仪器台，是否提供加工定制:是，类型:射线探伤仪，品牌:HSCreate 恒胜创新，型号:恒胜创新 BJI-G，测量范围:各类磁卡、IC卡等制品，分辨率:227LP/CM，尺寸:100（mm），重量:3.2（kg）。发布HSCreate 恒胜创新探伤仪信息的厂家是北京恒胜创新电子设备有限公司