x射线元素分析，镀层测厚仪

x射线元素分析，镀层测厚仪价格：1.00元/台 最小起订量：1 台 供货总量：100 台 发货期限：自买家付款之日起3天内发货 有效期至：长期有效

天瑞仪器成立于1992 年，以研究、生产、销售X 荧光光谱分析仪起步，目前从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的高端分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务，是国内首家在创业板上市的分析仪器企业。公司产品主要应用于环境保护与安全（空气、土壤、水质污染检测等）、矿产与资源（地质、采矿）、商品检验甚至人体微量元素的检验等众多领域。

     
     Thick 8000X射线镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端镀层光谱分析仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
 

仪器配置       

1    硬件：主机壹台，含下列主要部件： 

(1)   X光管                 (2) 半导体探测器

(3) 放大电路                (4) 高精度样品移动平台

(5) 高清晰摄像头            (6) 高压系统

(7) 上照、开放式样品腔      (8）双激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2   软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

参数规范
1．分析元素范围：硫（S）～铀（U）； 
2.同时检测元素：最多24个元素，多达5层镀层；
3.分析含量：一般为2ppm到99.9%；
4.镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）；
5.SDD探测器：分辨率低至135eV；
6.先进的微孔准直技术：最小孔径达0.1mm,最小光斑达0.1mm；
7.样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头； 
8.准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合； 
9.仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um；

性能特点

1.精密的三维移动平台； 
2.卓越的样品观测系统； 
3.先进的图像识别； 
4.轻松实现深槽样品的检测； 
5.四种微孔聚焦准直器，自动切换； 
6.双重保护措施，实现无缝防撞； 
7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度。

安装要求：

1   环境温度要求：15℃-30℃

2   环境相对湿度：<70%

3   工作电源：交流220±5V

4   周围不能有强电磁干扰。

厂家介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司是专业生产ROHS测试仪，液相色谱质谱仪（LCMS）,原子荧光光谱仪，x射线测厚仪，ROHS检测设备，X射线镀层测厚仪，气相色谱仪，ROHS检测仪，液相色谱仪，手持式矿石分析仪，原子吸收光谱仪，X射线荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪，气相色谱质谱联用仪（GCMS）, ROHS仪器，手持式合金分析仪等分析仪器，涉及的仪器设备主要有Thick 8000、Thick800A、EDX600、AAS 9000、AAS 8000等。