国产x光镀层测厚仪价格:1.00元/台 最小起订量:1 台 供货总量:100 台 发货期限:自买家付款之日起3天内发货 有效期至:长期有效
【国产x光镀层测厚仪技术指标】
分析元素范围:从硫(S)到铀(U)
同时检测元素:最多24个元素,多达五层镀层(镀镍、镀金、镀银、镀锡等)
检出限:可达2ppm,最薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低至135eV
采用先进的微孔准直技术,最小孔径达0.1mm,最小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
稳定性:可达0.1%
Ф0.3mm四种准直器组合
操作环境湿度:≤90%
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 最高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 :小于0.1um
操作环境温度 15℃~30℃
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
【国产x光镀层测厚仪测试实例】
在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素,大大提高测试稳定性、降低检测限。
Thick 8000x光镀层测厚仪检测谱图
某国外x光镀层测厚仪仪器检测谱图
11次测量结果(Au-Cu)的稳定性数据对比如下:
次数 |
Thick8000x光镀层测厚仪 |
行业内其他仪器 |
1 |
0.042 |
0.0481 |
2 |
0.043 |
0.0459 |
3 |
0.043 |
0.0461 |
4 |
0.0412 |
0.0432 |
5 |
0.0429 |
0.0458 |
6 |
0.0436 |
0.0458 |
7 |
0.0427 |
0.0483 |
8 |
0.0425 |
0.045 |
9 |
0.0416 |
0.0455 |
10 |
0.0432 |
0.0485 |
11 |
0.0422 |
0.043 |
平均值 |
0.0425 |
0.0459 |
标准偏差 |
0.0007 |
0.0019 |
相对标准偏差 |
1.70% |
4.03% |
极差 |
0.0024 |
0.0055 |
X 光镀层测厚仪是一款快速无损的镀层测厚仪器,主要对镀金层、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜等金属镀层厚度测试,产品广泛应用于五金工具、电子线路印刷板、开关、 铝镀锌企业等,江苏天瑞仪器股份有限公司生产的THICK8000X光镀层测厚仪(国产厂家)是在THICK600、THICK800A的基础上做了进一 步的升级,三维移动平台,高清摄像系统,使整个测试过程更加清晰,测试结果更加准确,对微小点和微距离点的测试更加精准。
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