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X射线荧光膜厚测试仪价格：100.00元/台 最小起订量：1 台 供货总量：100 台 发货期限：自买家付款之日起3天内发货 有效期至：长期有效
X射线荧光膜厚测试仪的技术指标型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
本文引用地址：http://www.worldmetal.cn/sell/show-1932599-1.html
以上"天瑞仪器X射线荧光膜厚测试仪"信息由企业自行提供，该企业负责信息内容的真实性、准确性和合法性。本网对此不承担任何保证责任。
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