X荧光测厚仪

X荧光测厚仪价格：0.00元/ 发货期限：自买家付款之日起3天内发货 有效期至：长期有效

牛津仪器CMI900 无损电镀膜厚测量仪，专业测量金、银 钯 銠 镍 铜 锡 等贵金属多镀层膜厚测量，快速 精准 无损，业内广受好评，客户应

用广泛在 五金 连接器 PCB  LED支架等行业以形成行业测量的标准。欢迎广大五金连接器客户联系 测量量样品 洽谈往来 本公司经营多年工程师经验丰富，商业合作个方式灵活。

金属镀层厚度测量， 例如Zn；Cr；  Cu；  Ag；  Au；Sn等  合金(两样金属元素)镀层厚度测量，  例如：  SnPb；  ZnNi；  及NiP(无电浸镍)在Fe上等
合金(三檬金属元素)镀层厚度测量，  例如：  AuCuCd在Ni上等
双镀层厚度测量，  例如：Au／Ni在Cu  上；  Cr／Ni在Cu上；Au／Ag在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等
双镀层厚度测量(其中一层是合金层)，  例如：  SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等
三镀层，  例如：  Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上

PCB LED 连接器等行业 gold flash/ Nip / Cu 或  Au / Pdni / Cu 
~~  Ag / Ni / Cu / Ni  / Cu  等常见应用