铝箔厚度测量仪,薄膜测厚仪,铝片测厚仪

薄膜测厚仪价格：0.00元/ 发货期限：自买家付款之日起3天内发货 有效期至：长期有效

铝箔厚度测量仪,薄膜测厚仪,铝片测厚仪

Labthink兰光CHY-C2铝箔厚度测量仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645等多种测试标准，适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。Labthink兰光拥有先进的检测技术与专业实验室，专业致力于为全球范围医药、食品、日化、包装、印刷、胶粘剂、汽车、石化、环境、生物、新能源、建筑、航空及电子领域客户提供最优秀、最全面的品质控制解决方案。
CHY-C2铝箔厚度测量仪主要技术指标：
测量范围：0～2mm（常规）
　　　　　0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电　　源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)
净　　重：33kg
以上CHY-C2铝箔厚度测量仪信息由Labthink济南兰光发布，欢迎致电0531-85068566了解详细信息！