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 能量分散型荧光X射线元素分析仪 JSX-3400RⅡ
JSX-3400RⅡ是日本电子株式会社推出的08年新一代高性能能量分散型荧光X射线元素分析仪。该设备具有出众性能指针，不仅能很好对应RoHS指令、ELV指令和其它环境指令相关元素分析，还对卤素Cl高精度测试分析。 能同时达到无卤测试及ROHS测试。
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主要特点
| 1. |
实现高灵敏度*微少成分的分析*短时间测定！ |
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Ⅰ |
采用新光学系统与高分辨率 Si(Li) 型检测器。检测器分辨率保证在149eV以下。(业界 |
| 最好的保证分辩率). |
| Ⅱ |
最新开发的针对RoHS用X射线滤波器。减除了X射线管发出的干扰波峰以外，实现了波 |
| 峰背景的低减与避免共存元素影响。 |
| 2. |
内置标配塑料和金属的检量线。用户不需要再做！ |
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Ⅰ |
通过设备的校正功能，配置各种检量线长期使用完全有效。一般的保守也特别简单。 |
| Ⅱ |
可针对Cl的检量线，检测极限可达9个PPM，达到无卤测试要求。 |
| 3. |
简单方便的操作系统 |
| 2 |
Ⅰ |
按一键就完成测定!自动保存结果。一键生成报告 |
| 4. |
材料元素 Monitoring 系统。 |
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Ⅰ |
实现样品形状/厚度/面积和材料性质补正都自动进行。在业界最多补正功能。满足样 |
| 品基材多样性需求。 |
| 5. |
采用300mmφ 大型样品室，自动样品样品仓门。 |
| 3 |
Ⅰ |
大样品可以直接放入様品室。自动样品仓门更好密封样品室。 |
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其他功能
| 1. |
分析結果報告軟體：測試自動保存結果，並可一鍵生成報告。（標配） |
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→
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| 2. |
鍍錫分析軟體（可選） |
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Ⅰ |
無鉛焊錫和Sn焊料中的Pb分析非常困難，使用該軟體可以簡單進行非破壞分析，並 |
| 進行鍍層厚度修正分析準確。 |
| 3. |
鍍鎳分析軟體（可選） |
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Ⅰ |
非破壞測量無電解Ni鍍層中的Pb,Cd進行鍍層厚度修正分析準確。成功地去除了背底 |
| 的影響。 |
| Ⅰ |
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技術參數
| 元素範圍 |
Na11 - U92 |
| 解析度 |
保證149ev 以下(JSX-3400R是目前市面上解析度最佳之桌上型XRF) |
| X射線管 |
5-50kV, 1mA, 50W |
| 靶材 |
Rh靶 |
| 濾波機構 |
4種自動交換(包括Open) |
| 准直器 |
1mmΦ,3mmΦ, 7mmΦ |
| 探測器 |
液氮製冷型Si(Li)半導體探測器 |
| 液氮 |
3升（消耗量1升/日以下）僅使用 |
| 樣品室尺寸 |
300 mmΦ x 150mmH |
| 樣品室環境 |
大氣， 真空（可選）
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| 作業系統 |
Windows XP，19寸彩色顯示器 |
| 主要附件 |
能量校正樣品/強度校正樣品/檢查樣品 |
| 設備電源 |
單相AC100V±10%，單相AC220V±10% |
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