VEGA代理物位计SG51.XXSGBCPVL

能量很低的极短的微波脉冲通过天线系统发射并接收。雷达波以光速运行。运行时间可以通过电子部件背转换成物位信号。一种特殊的时间延伸方法可以确保极短时间内稳定和精确的测量。即使在存在虚假反射的时候，最新的微处理技术和独一无二的ECHOFOX-软件也可以准确地分析出物位回波。通过输入容器尺寸，可以将上空距离值转换成与物位成正比的信号。仪表可以空仓调试。

配有喇叭口天线、抛物线天线或½"- 导波管天线的雷达传感器，用于连续物位测量（K-频段）
适用于存储容器或过程容器，可以在恶劣条件下测量几乎所有介质。

优势
- 非接触是测量，不受过程温度、过程压力和过程气体的限制 - 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度 ±3 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics®产品系列
测量范围	达 35 米
过程连接	螺纹或法兰
过程温度	-40 ... 200°C
过程压力	-1 … +40 bar （-100 … +4000 kPa）
测量精度	±3 mm
发射频率	K-频段

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常见物位测量型号：超声波液位计SON61,超声波料位计SON65,SN62,SON63,SON66;导波雷达液位计FLEX61,FX62,FX63,FX65,FX66;电容式液位计：CAL62,CAL63,CAL65,电容式料位计;CAL66;雷达物位计：PULS61,PS62,料位计：PS63,PS68雷达液位计，PS65液位计，PS66.

位式测量型号：电容式料位计CAP62,CAP63,CAP64,CAP65电容式料位开关，CAP66,CAP67。振动式液位计：SWING51,SWING61,SWING63,VIB62料位开关，VIB61,VIB63,音叉液位开关WAVE61,WAVE62,WAVE63.

调试信号处理软件：PACTware,CONNECT4显示仪表，PLICSCOM调试模块，DIS61调试软件；信号处理仪表：MET624,MET381,MET513.

压力测量：BAR14压力传感器，BAR17过程压力传感器，BAR52压力变送器，BAR54,BAR63,BAR64,BAR66,BAR67,BAR74,WELL52.

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